德国菲希尔ISOSCOPEX-射线荧光测厚仪及材料分析X-Ray XDAL

X-射线荧光测厚仪及材料分析X-Ray XDAL商品简介：

X-射线荧光测厚仪及材料分析X-Ray XDAL详细信息：

• 仪器：            Fischerscope X-Ray XDAL 测量头
• 电脑：            安装 WinFTM V6  测试软件
• 标准片：        X-Ray 仪器专用标准片

德国菲希尔ISOSCOPE X-射线荧光测厚仪及材料分析X-Ray XDAL 应用

德国菲希尔ISOSCOPE X-射线荧光测厚仪及材料分析X-Ray XDAL 特征：

• 标        准：             DIN 60987 、 ASTM B568、ISO 3497
• 仪器种类：             XRF（X-射线荧光）
• 仪器特点：             由于使用微聚焦管，可测精细的产品
• 测量范围：             从 铝（z＝13） 到 铀（z＝92）
• 标准软件：             WinFTM V3;  可另购 PDM 软件
• 测量方向：             从上而下
• X-射线管：          微聚焦管 ；可加 Ni 和 Al 滤波器 
• X-射线管高压：  30KV、40KV、50KV 可调
• 视 准 器：             Φ0.6 mm；0.3 * 0.3 mm；0.2 * 0.2 mm；0.15 * 0.15 mm
• 最小测量面积：     0.2 ～ 0.62 mm 
• 有效对焦范围：     4 mm 
• X 射线接收器：    高分辨率半导体接收器
• 测 量 台：            电动可编程测量台，激光定位    
• 样品定位：            可编程测量台可用鼠标定位或操纵杆微调定位
• 可编程XY移动范围：   256 * 230 mm 
• 移动精确度：         0.01 mm
• 移动速度上限：     25 mm / s
• Z - 轴：               电动，可编程
• 测量室尺寸：        460W * 500D * 146H  mm 
• 测量点对焦：        视觉对焦或自动对焦
• 放大倍数：            光学： 20 - 45 x；
•                                 数字： 1、2、3、4 x 
•                                 总倍数：  20 - 180 x